雷(lei)達(da)液位計(ji)報價(jia)

雷(lei)達(da)液位計(ji)屬(shu)於通(tong)用型(xing)雷(lei)達(da)液位計(ji)，它(ta)基(ji)於時(shi)間行(xing)程原理(li)的測量儀表，雷(lei)達(da)波(bo)以(yi)光(guang)速運行，運行時(shi)間可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)電子部件被轉換(huan)成(cheng)物位(wei)信號(hao)。探(tan)頭(tou)發(fa)出(chu)高頻(pin)脈沖在(zai)空(kong)間以(yi)光(guang)速傳播，當脈沖遇(yu)到(dao)物(wu)料表面(mian)時(shi)反射回(hui)來(lai)被(bei)儀表內的接收器(qi)接(jie)收，並將距離(li)信(xin)號(hao)轉化為(wei)物(wu)位信(xin)號(hao)。雷(lei)達(da)液位計(ji)報價(jia)

 雷(lei)達(da)液位計(ji)報價(jia)

雷(lei)達(da)液位計(ji)發(fa)射(she)能量很低(di)的極(ji)短的微(wei)波(bo)脈沖通(tong)過(guo)天(tian)線(xian)系統發(fa)射(she)並接收。雷(lei)達(da)波(bo)以(yi)光(guang)速運行。運行時(shi)間可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)電子部件被轉換(huan)成(cheng)物位(wei)信號(hao)。壹(yi)種(zhong)特(te)殊的(de)時(shi)間延伸(shen)方法(fa)可(ke)以(yi)確(que)保(bao)極短時(shi)間內穩定(ding)和精(jing)確(que)的(de)測量。

即使工(gong)況比(bi)較復(fu)雜的情(qing)況(kuang)下，存(cun)在虛假(jia)回(hui)波(bo)，用(yong)的(de)微處(chu)理(li)技(ji)術(shu)和調試(shi)軟件也可(ke)以(yi)準確(que)的(de)分析(xi)出(chu)物(wu)位(wei)的回(hui)波(bo)。

輸(shu)入

天(tian)線(xian)接(jie)收(shou)反射(she)的微波脈沖並將其傳(chuan)輸(shu)給電子(zi)線路(lu)，微處(chu)理(li)器對(dui)此信號(hao)進行(xing)處(chu)理(li)，識別(bie)出微脈沖在(zai)物(wu)料表面(mian)所(suo)產(chan)生(sheng)的(de)回(hui)波(bo)。正(zheng)確(que)的(de)回(hui)波(bo)信(xin)號(hao)識別(bie)由智能(neng)軟件完成(cheng)，精度可(ke)達(da)到(dao)毫(hao)米級(ji)。距離(li)物(wu)料表面(mian)的(de)距(ju)離(li)D與(yu)脈沖的(de)時(shi)間行(xing)程T成(cheng)正比(bi)：

D=C×T/2

其中C為(wei)光(guang)速

因(yin)空(kong)罐的距(ju)離(li)E已(yi)知(zhi)，則(ze)物(wu)位L為(wei)：

L=E-D

輸(shu)出

通(tong)過輸(shu)入空(kong)罐高度E（=零點），滿(man)罐高度F（=滿(man)量程）及(ji)壹(yi)些(xie)應(ying)用參(can)數來(lai)設定(ding)，應(ying)用參(can)數將自動(dong)使(shi)儀表適(shi)應測量環境(jing)。對(dui)應於4－20mA輸(shu)出(chu)。

應用介(jie)質：

智(zhi)能雷(lei)達(da)物(wu)位(wei)計(ji)適用於對(dui)液體、漿(jiang)料及(ji)顆(ke)粒料的物位進(jin)行(xing)非接觸式連(lian)續(xu)測量，適用於溫度、壓(ya)力(li)變化大；有(you)惰(duo)性氣(qi)體及(ji)揮(hui)發(fa)存(cun)在的場合。

采用微(wei)波(bo)脈沖的(de)測量方法(fa)，並可(ke)在(zai)工(gong)業頻(pin)率波段(duan)範圍(wei)內正常工(gong)作(zuo)。波束(shu)能量較低(di)，可(ke)安(an)裝於(yu)各種(zhong)金屬(shu)、非金屬(shu)容器(qi)或管(guan)道(dao)內，對(dui)人(ren)體及(ji)環境(jing)均(jun)無(wu)傷害。

註意(yi)事(shi)項：

1：測量範圍從波束(shu)觸及(ji)罐低(di)的那(na)壹(yi)點(dian)開(kai)始計(ji)算，但在特殊情(qing)況(kuang)下，若(ruo)罐底為(wei)凹(ao)型(xing)或錐(zhui)形(xing)，當物(wu)位(wei)低(di)於此(ci)點時(shi)無(wu)法(fa)進(jin)行(xing)測量。

2：若介質為(wei)低(di)介電(dian)常數當其(qi)處(chu)於低(di)液位時(shi)，罐底可(ke)見(jian)，此(ci)時(shi)為(wei)保(bao)證(zheng)測量精度，建(jian)議(yi)將零點定在(zai)低(di)高度為(wei)C 的(de)位置。

3：理(li)論(lun)上(shang)測量達到(dao)天(tian)線(xian)的位(wei)置是(shi)可(ke)能(neng)的(de)，但是(shi)考慮到(dao)腐蝕及(ji)粘附的影(ying)響(xiang)，測量範圍的終值(zhi)應(ying)距離(li)天(tian)線(xian)的(de)至少(shao)100mm。

4：對(dui)於過溢保(bao)護，可(ke)定(ding)義壹(yi)段(duan)安(an)全距(ju)離(li)附加在(zai)盲區(qu)上(shang)。

5：小(xiao)測量範圍與天線(xian)有(you)關(guan)。

雷(lei)達(da)液位計(ji)安(an)裝要求(qiu)：

1. *距離(li)(1)墻(qiang)至安(an)裝短管(guan)的外(wai)壁(bi)。

2. 離(li)罐壁為(wei)罐直徑1/6處(chu)，小(xiao)距離(li)為(wei)200mm。

3. 不(bu)能安(an)裝在(zai)入料口的上方(4)。

註意(yi)事(shi)項：測量範圍從波束(shu)觸及(ji)罐低(di)的那(na)壹(yi)點(dian)開(kai)始計(ji)算，但在特殊情(qing)況(kuang)下，若(ruo)罐低(di)為(wei)凹(ao)型(xing)或錐(zhui)形(xing)，當物(wu)位(wei)低(di)於此(ci)點時(shi)無(wu)法(fa)進(jin)行(xing)測量。若介質為(wei)低(di)介電(dian)常數當其(qi)處(chu)於低(di)液位時(shi)，罐低(di)可(ke)見(jian)，此(ci)時(shi)為(wei)保(bao)證(zheng)測量精度，建(jian)議(yi)將零點定在(zai)低(di)高度為(wei)C 的(de)位置。理(li)論(lun)上(shang)測量達到(dao)天(tian)線(xian)的位(wei)置是(shi)可(ke)能(neng)的(de)，但是(shi)考慮到(dao)腐蝕及(ji)粘附的影(ying)響(xiang)，測量範圍的終值(zhi)應(ying)距離(li)天(tian)線(xian)的(de)至少(shao)100mm。對(dui)於過溢保(bao)護，可(ke)定(ding)義壹(yi)段(duan)安(an)全距(ju)離(li)附加在(zai)盲區(qu)上(shang)。小(xiao)測量範圍與天線(xian)有(you)關(guan)。

導波(bo)雷(lei)達(da)液位計(ji)選型(xing)：

雷(lei)達(da)物(wu)位(wei)計(ji)是(shi)基(ji)於時(shi)間行(xing)程原理(li)的測量儀表，雷(lei)達(da)波(bo)以(yi)光(guang)速運行，運行時(shi)間可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)電子部件被轉換(huan)成(cheng)物位(wei)信號(hao)。探(tan)頭(tou)發(fa)出(chu)高頻(pin)脈沖並沿(yan)纜(lan)式、桿式探(tan)頭(tou)傳導，當脈沖遇(yu)到(dao)物(wu)料表面(mian)時(shi)反射回(hui)來(lai)被(bei)儀表內的接收器(qi)，並將距離(li)信(xin)號(hao)轉化成(cheng)物位(wei)信號(hao)。

雷(lei)達(da)物(wu)位(wei)計(ji)

應 用：液體、粉(fen)料、固體顆(ke)粒、帶(dai)浮頂的(de)氣體

測量範圍：70米

過程(cheng)連接(jie)：螺(luo)紋(wen)、法(fa)蘭

過程溫度：-40-800°

過(guo)程(cheng)壓(ya)力(li)：-1.0-20bar

精 度：<0.1%

頻(pin)率範圍(wei)：6GHZ--80GHZ

防護等級(ji)：ExiaⅡC T6/IP67

信號(hao)輸出(chu):4-20mA （兩線）

4-20mA/HART（兩(liang)線）

4-20mA/HART（四(si)線）

導波(bo)雷(lei)達(da)物(wu)位(wei)計(ji)

應 用：液體、粉(fen)料、固體顆(ke)粒

測量範圍：30米

過程(cheng)連接(jie)：螺(luo)紋(wen)、法(fa)蘭

過程溫度：-200-400°

過(guo)程(cheng)壓(ya)力(li)：-1.0-400bar

精 度：<0.1%

頻(pin)率範圍(wei)：100MHZ--1.8GHZ

防護等級(ji)：ExiaⅡC T6/IP67

信號(hao)輸出(chu):4-20mA （兩線）

4-20mA/HART（兩(liang)線）

4-20mA/HART（四(si)線）

DEC-LEDC3導波(bo)雷(lei)達(da)物(wu)位(wei)計(ji)

應 用：液體、粉(fen)料、固體顆(ke)粒

測量範圍：6米

過程(cheng)連接(jie)：螺(luo)紋(wen)、法(fa)蘭

過程溫度：-40-250°

過(guo)程(cheng)壓(ya)力(li)：-1.0-20bar

精 度：<0.1%

頻(pin)率範圍(wei)：100MHZ--1.8GHZ

防護等級(ji)：ExiaⅡC T6/IP67

信號(hao)輸出(chu):4-20mA/HART（兩線）

優(you)勢及(ji)應用：

1、雷(lei)達(da)液位計(ji)可(ke)以(yi)測量液體、固體介(jie)質(zhi)比(bi)如：原油(you)、漿(jiang)料、原煤(mei)、粉煤(mei)、揮(hui)發(fa)性(xing)液體等(deng)；

2、可(ke)以(yi)在(zai)真(zhen)空(kong)中(zhong)測量可(ke)以(yi)測量所(suo)有(you)介(jie)質常(chang)數>1.2的(de)介質，測量範圍可(ke)達(da)70m；

3、供(gong)電和(he)輸出信號(hao)通過(guo)壹(yi)根(gen)兩(liang)芯線(xian)纜（回(hui)路(lu)電路(lu)）,采用4…20mA輸(shu)出(chu)或數字(zi)型(xing)信(xin)號(hao)輸出(chu)；

4、非接觸式測量安(an)裝方便采用極(ji)其(qi)穩定(ding)的材(cai)料牢固耐用，精(jing)確(que)可(ke)靠(kao)分辨率可(ke)達(da)1mm；

5、不(bu)受(shou)噪(zao)音、蒸汽、粉塵(chen)、真(zhen)空(kong)等(deng)工(gong)況影(ying)響(xiang)；

6、不受介(jie)質(zhi)密(mi)度和(he)溫度的(de)變(bian)化，過(guo)程(cheng)壓(ya)力(li)可(ke)達(da)400bar,介(jie)質(zhi)溫度可(ke)達(da)-200℃至800℃；

7、安(an)裝方式有(you)多種可(ke)以(yi)選擇：頂部安(an)裝、側面(mian)安(an)裝、旁(pang)通管(guan)安(an)裝、導波(bo)管(guan)安(an)裝；

8、調試(shi)可(ke)多種方式選擇：采用編程模(mo)塊(kuai)調試(shi)（相當於(yu)壹(yi)個(ge)分析(xi)處(chu)理(li)儀表）、SOFT軟(ruan)件調試(shi)、HART手持(chi)編程器(qi)調試(shi)，調試(shi)起來(lai)方便快捷。