射頻(pin)導(dao)納料位(wei)開關(guan)與電容式(shi)技術(shu)的區(qu)別(bie)是(shi)什(shen)麽(me)

　　射頻(pin)導(dao)納物位(wei)開關(guan)是基(ji)於射頻(pin)導(dao)納原(yuan)理的點(dian)位(wei)測量(liang)產(chan)品。該儀(yi)表除(chu)穩定(ding)性高、測(ce)量(liang)精度高(gao)、應用(yong) 場合(he)廣等優點(dian)之外(wai)。相比傳(chuan)統(tong)的電容式(shi)物位(wei)開關(guan)， 產(chan)品采用模塊(kuai)化(hua)設計(ji)，並(bing)配有指(zhi)示燈(deng)，使(shi)用戶能(neng)夠 直觀地(di)獲(huo)取(qu)所(suo)需的(de)信(xin)息(xi)，方(fang)便(bian)了設定(ding)和(he)維護(hu)。

　　智(zhi)能(neng)免(mian)調(tiao)試型模(mo)塊(kuai)，采用先進的(de)微(wei)處(chu)理器(qi)、數(shu) 字調試模塊(kuai)及(ji)智(zhi)能(neng)識別(bie)算(suan)法(fa)，實(shi)現了儀(yi)表(biao)應用(yong)的(de)智(zhi) 能(neng)免(mian)調(tiao)試。
 

　　傳統的(de)電容式(shi)物位(wei)開關(guan)，隨(sui)著物料上(shang)漲、物料 覆蓋探(tan)頭(tou)，電路中探(tan)頭(tou)和(he)介質(zhi)之(zhi)間的電容值(zhi)（導(dao)電 物料場合(he)）或者(zhe)探(tan)頭(tou)和(he)管壁之(zhi)間(jian)的(de)電容值(zhi)（絕(jue)緣物(wu) 料場合(he)）隨(sui)之增(zeng)加。由於在(zai)探(tan)頭(tou)外(wai)壁物(wu)料掛(gua)料多(duo)少 的(de)變(bian)化導(dao)致(zhi)了電容值(zhi)的(de)變(bian)化，電容值(zhi)的(de)變(bian)化通過(guo)電 橋的檢(jian)波(bo)、放(fang)大、計算(suan)，後(hou)輸出產(chan)生(sheng)相應的(de)電量變(bian)化。

　　射頻(pin)導(dao)納原(yuan)理測量技(ji)術(shu)是經過改良(liang)的物(wu)位(wei)測量(liang)技(ji)術(shu)。該系(xi)列產(chan)品應用(yong)了射頻(pin)信號(hao)，並(bing)加入(ru)了 Driving-Shield 電路，屏(ping)蔽(bi)了幹(gan)擾(rao)信(xin)號和(he)非物(wu)料變(bian)化 產(chan)生(sheng)的信號(hao)。電路能(neng)夠阻止(zhi)射頻(pin)電流(liu) 通過(guo)掛(gua)料形成(cheng)回路，由掛(gua)料產(chan)生(sheng)的影響能(neng)夠被(bei)識別(bie)， 並(bing)且通過(guo)電橋的移(yi)相等處(chu)理從總(zong)的輸出中消除(chu)掉探(tan) 頭(tou)端(duan)掛(gua)料對測(ce)量(liang)的影響，因(yin)此該系(xi)列產(chan)品具(ju)有很強(qiang) 的抗(kang)幹(gan)擾(rao)和(he)抗(kang)掛(gua)料能(neng)力(li)。 射頻(pin)導(dao)納技術(shu)測量(liang)結(jie)果(guo)精度高(gao)，不(bu)受(shou)探(tan)頭(tou)掛(gua)料的影(ying)響，是目(mu)前(qian)使(shi)用場合(he)廣泛的(de)壹種(zhong)測(ce)量(liang)技(ji)術(shu)。

　　射頻(pin)導(dao)納料位(wei)開關(guan)工(gong)作原(yuan)理：

　　射頻(pin)導(dao)納是壹種(zhong)從(cong)電容式(shi)發展起來(lai)的(de)、防(fang)掛(gua)料、更(geng)可(ke)靠(kao)、更(geng)準確(que)、適(shi)用(yong)性更(geng)廣的新(xin)型物(wu)位(wei)控制(zhi)技術(shu)，是電容式(shi)物位(wei)技術(shu)的升級。所(suo)謂射頻(pin)導(dao)納，導(dao)納的含義(yi)為(wei)電學(xue)中阻抗(kang)的倒數，它(ta)由電阻性成(cheng)分、電容性成(cheng)分、感性成(cheng)分綜(zong)合(he)而(er)成(cheng)，二射頻(pin)即(ji)高頻(pin)無(wu)線(xian)電波(bo)譜，所(suo)以(yi)射頻(pin)導(dao)納可(ke)以(yi)理解為(wei)用高(gao)頻(pin)無(wu)線(xian)電波(bo)測(ce)量(liang)導(dao)納。儀表工(gong)作時，儀(yi)表的傳(chuan)感器(qi)與(yu)罐壁及(ji)被(bei)測介(jie)質(zhi)形(xing)成(cheng)導(dao)納值，物位(wei)變(bian)化時，導(dao)納值相應變(bian)化，電路單元(yuan)將測(ce)量(liang)導(dao)納值轉換(huan)成(cheng)物位(wei)信號(hao)輸出，實現物位(wei)測量(liang)。

　　射頻(pin)導(dao)納料位(wei)開關(guan)與電容式(shi)技術(shu)重要的區別(bie)在(zai)於測(ce)量量的多(duo)樣(yang)化(hua)和(he)防(fang)掛(gua)料技術(shu)。

　　射頻(pin)導(dao)納料位(wei)開關(guan)測量(liang)量多(duo)樣(yang)化(hua)在(zai)於不(bu)止(zhi)是(shi)測(ce)量(liang)電容，而(er)是測(ce)量(liang)電容、電阻和(he)電感的(de)綜(zong)合(he)量，使(shi)測量(liang)更(geng)全(quan)面、更(geng)準確(que)。

　　防(fang)掛(gua)料技術(shu)是在(zai)測量(liang)電極和(he)地(di)極之(zhi)間加入(ru)屏(ping)蔽(bi)電極，將測(ce)量(liang)電極保(bao)護(hu)起(qi)來(lai)，不(bu)受(shou)掛(gua)料影響。在(zai)電路單元(yuan)測量(liang)信(xin)號(hao)上(shang)引(yin)出壹根線(xian)，經同相放(fang)大器(qi)放(fang)大，其(qi)輸出與同軸(zhou)電纜屏(ping)蔽(bi)層相連，然(ran)後(hou)又連(lian)到(dao)探(tan)頭(tou)的屏(ping)蔽(bi)層上(shang)。該放(fang)大器(qi)是(shi)壹個同(tong)相放(fang)大器(qi)，其(qi)增(zeng)益(yi)“1”，輸出信號與輸入(ru)信(xin)號(hao)等(deng)電位(wei)、同相位(wei)、同頻(pin)率(lv)但(dan)互(hu)相隔離。地(di)線(xian)是電纜中另壹條獨(du)立(li)的(de)導(dao)線(xian)。由於同(tong)軸(zhou)電纜的中心線(xian)與外(wai)層屏(ping)蔽(bi)存在(zai)上(shang)述關(guan)系(xi)，所(suo)以(yi)二者(zhe)之(zhi)間沒有電位(wei)差，也(ye)就(jiu)沒(mei)有(you)電流(liu)流(liu)過(guo)，即(ji)沒有電流(liu)從(cong)中心線(xian)漏(lou)出來(lai)，相當(dang)於二者(zhe)之(zhi)間沒有電容或(huo)電容等(deng)於(yu)零(ling)。因(yin)此電纜的溫(wen)度效(xiao)應，安(an)裝(zhuang)電容等(deng)也(ye)就(jiu)不(bu)會(hui)產(chan)生(sheng)影響。

　　射頻(pin)導(dao)納料位(wei)開關(guan)產(chan)品特點(dian):

　　通用(yong)性強：可(ke)測(ce)量液(ye)位(wei)及料位(wei)，可(ke)滿(man)足不(bu)同(tong)溫(wen)度、壓力(li)、介(jie)質(zhi)的(de)測量要求(qiu)，zui高測量(liang)溫(wen)度可(ke)達(da)800℃，大壓力(li)可(ke)達(da)5Mpa，並(bing)可(ke)應用(yong)於(yu)腐(fu)蝕、沖(chong)擊(ji)等惡(e)劣場合(he)。

　　防(fang) 掛(gua) 料：*的電路設計(ji)和(he)傳感器(qi)結(jie)構(gou)，使(shi)其(qi)測量(liang)可(ke)以(yi)不(bu)受(shou)傳(chuan)感器(qi)掛(gua)料影響，無(wu)需定(ding)期清(qing)潔(jie)，避(bi)免(mian)誤(wu)測(ce)量(liang)。

　　免(mian) 維(wei) 護(hu)：測(ce)量(liang)過程(cheng)無(wu)可(ke)動部(bu)件，不(bu)存在(zai)機械部(bu)件損(sun)壞(huai)問(wen)題(ti)，無(wu)須(xu)維護(hu)。

　　抗(kang) 幹(gan) 擾(rao)：接(jie)觸式(shi)測量，抗(kang)*力(li)強(qiang)，可(ke)克(ke)服蒸汽(qi)、泡(pao)沫及攪拌對(dui)測量(liang)的影響。

　　準確(que)可(ke)靠(kao)：測量量多(duo)樣(yang)化(hua)，使(shi)測量(liang)更(geng)加準確(que)，測(ce)量(liang)不(bu)受(shou)環(huan)境(jing)變(bian)化影響，穩定(ding)性高，使(shi)用壽(shou)命長。

　　射頻(pin)導(dao)納料位(wei)開關(guan)，即(ji)射頻(pin)導(dao)納物位(wei)計，也(ye)常(chang)稱(cheng)作是射頻(pin)導(dao)納開關(guan)。采用*的電路設計(ji)和(he)傳感器(qi)結(jie)構(gou)，測(ce)量(liang)不受(shou)傳(chuan)感器(qi)影(ying)響。結(jie)構(gou)分(fen)為(wei)主電極和(he)補償(chang)電極兩(liang)部(bu)分。在(zai)主電極與(yu)補償電極間(jian)分別(bie)施(shi)加壹組(zu)RF射頻(pin)信號(hao)。當(dang)物料附(fu)著(zhe)時，內(nei)部(bu)放(fang)大器(qi)將信(xin)號(hao)放(fang)大，補償電極提(ti)供信(xin)號(hao)給主電極重(zhong)新設定(ding)信(xin)號(hao)準位(wei)，而(er)忽略(lve)目(mu)前(qian)所(suo)附(fu)著(zhe)的(de)物(wu)料。達到(dao)正確(que)的(de)判斷(duan)出料位(wei)開關(guan)動作時感應的(de)物(wu)料是正常(chang)的(de)物料還(hai)是感應棒(bang)上(shang)的(de)物料附(fu)著(zhe)物(wu)的(de)功(gong)能(neng)，提供正確(que)的(de)物料偵測(ce)信號。